X-MET3000TXV+航天航空工業(yè)輕金屬元素的檢測(cè)

X-MET3000TXV+：牛津儀器新型手持式XRF分析儀
——航天航空工業(yè)輕金屬元素的檢測(cè)
 
牛津儀器型的便攜式XRF分析儀，在硬件上配置了新的真空泵，為航天航空工業(yè)輕金屬元素的檢測(cè)提供了更為有效的分析工具。X-MET3000TXV+ 突破了傳統(tǒng)意義上XRF無法測(cè)量的一些應(yīng)用，可快速地檢測(cè)航空部件上鋁合金中硅和鎂含量、鈦合金中鋁的含量。而在這之前，上述元素都無法檢測(cè)。X-MET3000TXV+不但實(shí)現(xiàn)上述應(yīng)用，同時(shí)只需您輕輕一按，就能快速準(zhǔn)確地得到樣品的牌號(hào)身份和各元素的含量。
 
這款儀器為用戶帶來巨大效益，而便攜式直讀光譜儀的技術(shù)會(huì)在表面留下印記。X-MET3000TXV+所具備的輕元素檢測(cè)能力，尤其適合航天航空及相關(guān)行業(yè)，因?yàn)檫@些行業(yè)普遍使用鋁合金和鈦合金。關(guān)于X-MET3000TXV+的真空系統(tǒng)，并不需要攜帶壓縮氣體瓶。降低了您的氣體消耗成本，同時(shí)您也不必?fù)?dān)心沒氣時(shí)，無法進(jìn)行檢測(cè)的尷尬局面。
 
傳統(tǒng)的便攜式XRF分析儀對(duì)合金的鑒別是基于重金屬元素分析，因?yàn)殇X、鎂、硅這些元素所產(chǎn)生的低能量X射線在空氣中阻力太大，無法到達(dá)探測(cè)系統(tǒng)，所以無法分析。X-MET3000TXV+所配置的真空泵，改變了其空氣狀態(tài)的工作模式，實(shí)現(xiàn)了對(duì)這些元素的測(cè)量。
 
牛津PentaPIN^TM探測(cè)器的高分辨率增強(qiáng)了真空泵的特性，尤其表現(xiàn)在分析時(shí)間縮短和各元素的檢測(cè)下限降低。原理是只有通過硅或鎂的含量來鑒別鋁合金和鈦合金。新產(chǎn)品X-MET3000TXV+在分析其他合金（例如不銹鋼、銅合金等）保留了原先X-MET3000TX+分析儀的高性能。
 
基于牛津儀器PentaFET技術(shù)的PentaPIN^TM 探測(cè)器，能夠更快地得到分析結(jié)果，并降低了所有被分析元素的檢測(cè)下限。應(yīng)用該款探測(cè)器的儀器在10秒內(nèi)所取得的檢測(cè)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)的硅PIN 探測(cè)器（Si-PIN）的同類分析儀在30秒的測(cè)試時(shí)間內(nèi)所取得數(shù)據(jù)結(jié)果是等同的。的操作軟件能夠處理新探測(cè)器產(chǎn)生的數(shù)據(jù)，提高結(jié)果的準(zhǔn)確性。